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Retroreflex Ellipsometry for Nonplanar Surfaces
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  • KIT Scientific Publishing
  • Chia-Wei Chen
  • KNV98134177
  • 9783731514022
Retroreflex ellipsometry addresses the geometric restrictions of conventional ellipsometry by... mehr
Produktinformationen "Retroreflex Ellipsometry for Nonplanar Surfaces"
Retroreflex ellipsometry addresses the geometric restrictions of conventional ellipsometry by using a retroreflective sheet, which returns the light beam from the sample on the same beam path. Simulation and experiments of retroreflex ellipsometry in two- and three-phase systems have been demonstrated based on the proposed concepts, which have shown the capabilities of ellipsometric measurements on nonplanar surfaces.
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